Letztes Update:
20240930121927

Die FIB SEM-Tiefenanalyse

09:33
26.09.2024
Weiter geht es mit der FIB SEM-Tiefenanalyse, die Mirac Cihan vorstellt. SEM steht für "scanning electron microscope", und FIB für "focused ion beam". Cihan zeigt an einem Beispiel, wie das Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl bei einem Schichtsystem arbeitet. Selbst so harte Materialien wie Diamant können hiermit präpariert werden. Mit der genannten Analysemethode können z.B. die Struktur und die Dichte von Materialien untersucht und 3-dimensionale Modelle erstellt werden. 

Dr. Diana Mantel

Kleine Risse, große Erkenntnisse

09:29
26.09.2024
Lanitz erklärt, wie die Analyse bei einer beispielhaften Schadensanalyse abläuft: "Kleine Risse führen oft zu großen Erkenntnissen". Bei ihrem Beispiel ging es am Ende um eine Spannungsrisskorrosion, die bei Messing schon durch die Ionen im Wasser geschehen kann.  Insgesamt konnte man nicht nur die Schadensursache ermitteln, sondern auch die Haftungsgrundlage - sehr wichtig für den Kunden damals. Dazu gab es Empfehlungen, wie sich diese Schäden in Zukunft vermeiden lassen. 

Dr. Diana Mantel