Das “Goldstück der Abteilung” präsentiert Mirac Cihan: die FIB-SEM Analyse. Die Kombination aus Rasterelektronenmikroskop und fokussiertem Ionenstrahl ermöglicht es, im Mikro- bis Nanometer-Bereich gezielt in eine Probe (aus quasi jedem Material) hinein zu schneiden, um so die Materialstruktur direkt analysieren und abbilden zu können. Was diese Anlage unterscheidet, ist der Ionen- und Laserstrahl, mit dem man Fenster in das Bauteil schneiden kann, um den Schichtaufbau zu analysieren. Und am Ende kann man aus den verschiedenen Schichtbildern 3-dimensionale Informationen aufbauen, als Blick in die Probe hinein.

Dr. Diana Mantel