Letztes Update:
20190730125630

Computertomographie

14:38
17.05.2019
Eine große Neuheit gibt es in Bereich der Industriellen Computertomographie. Unser Neuzugang, das 3D-Röntgenmikroskop ZEISS Xradia 520 Versa, ermöglicht hochauflösende und zerstörungsfreie Analysen im Mikro- und Nanobereich. Während wir mit unserem bisherigen Maschinenpark 3,5 μm als kleinstmögliche Auflösung erreichen konnten, liegt bei der neuen Maschine die minimale Voxelgröße bei 0,07 μm. Insbesondere für die Untersuchung von Elektronik- und Halbleiterkomponenten, für die Additive Fertigung oder die Kunststoffanalytik ergeben sich hier interessante Möglichkeiten.

Ergänzen wir die Analytik im korrelativen Workflow mit dem ZEISS Crossbeam 350 (FIB-SEM) erhalten wir noch detaillierte Einblicke in das Innere einer Probe und können gleichzeitig mit einem Ionenstrahl Material in kleinsten Mengen lokal abtragen.

Paul Knecht

Industrielle Messtechnik

14:34
17.05.2019
Im Bereich der Industriellen Messtechnik dreht sich alles um die Überprüfung der Maßhaltigkeit und der Oberflächengüte durch den Einsatz verschiedener Messmethoden. 8 taktile Messmaschinen mit Geräten von ZEISS und Mitutoyo ermöglichen umfangreiche personelle und maschinelle Kapazitäten für Ihre Messaufgaben. Die optische Messtechnik setzen wir für die schnelle Erfassung aller zugänglichen Außengeometrien ein. Damit ist eine vollständige und frühzeitige Trendanalyse Ihrer Bauteile möglich.

Paul Knecht